>>203748
Это занимательная статистика, например, приборы из одной партии выходят из строя в одно и то же время. У каждого элемента есть срок службы, на котором вероятность выхода его из строя минимальна. Зависимость вероятности от времени работы нелинейная и зависит от многих факторов, в том числе от условий окружающей среды и рабочей температуры элемента. Утоньшение техпроцесса никак понижению вероятности отказа не способствует, хотя бы из-за сложности контроля чистоты материалов, поэтому, например, на военке есть ограничение на размер керамических SMD-кондесаторов. Как бы там ни было, статистической информации по отказам набрано достаточно много и на этапе проектирования можно предсказать выход того или иного элемента из строя, чем и пользуются. Плюс, оловянные усы имеют вполне стабильную скорость роста. На послегарантийке выходят из строя элементы с самым малым ресурсом, это в основном NAND-Flash, SD-RAM, электролиты (но мне такие не попадались, если честно). Про отвалы, не стал бы утверждать, что они предсказуемы — но тут лучше технолог скажет, — а вот ус, закоротивший два соседних шара в массиве вполне может пожечь цифровой двухтактный выход чипа и это никак не докажешь.